高溫立式膨脹儀

產(chǎn)品介紹：
ZRPY-III-1000高溫立式膨脹儀 (推桿式)
該儀器是用于測(cè)定在高溫狀態(tài)金屬材料，陶瓷、玻璃、釉料、耐火材料以及安瓿瓶、針劑瓶等玻璃瓶體在受熱焙燒過程中的膨脹和收縮性能。
儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T3810.8-2006對(duì)陶瓷磚線性熱膨脹的測(cè)定,GB/T16535-2008精細(xì)陶瓷線性熱膨脹系數(shù)試驗(yàn)方法:頂桿法，GB/T16920-2015對(duì)玻璃平均線熱膨脹系數(shù)的測(cè)定,GB/T3074（1）.4-2003對(duì)石墨電極熱膨脹系數(shù)的測(cè)定,GB/T 7320-2008《耐火制品熱膨脹試驗(yàn)方法》。 國家藥包材標(biāo)準(zhǔn)  YBB00202003-2015  平均線熱膨脹系數(shù)測(cè)定法
主要技術(shù)參數(shù):
1、采用立式、推桿式，裝卸樣方便;
2、使用溫度:1000℃，升溫速率0-50度/分可調(diào)；
3、電壓：交流220V; 加熱爐功率：2000W；
4、對(duì)樣品的兼容性強(qiáng)，可對(duì)玻璃棒、管、板及成品等進(jìn)行膨脹系數(shù)測(cè)定，樣品尺寸：Ф（6～22）×（40～100）mm或根據(jù)客戶要求訂制；超大樣品可隨意解體切割成如上形狀；（可將2ml安瓿；針劑瓶等玻璃瓶體直接作為樣品進(jìn)行測(cè)定，不需切割）
5、儀器可與電腦聯(lián)機(jī)顯示并可打印出膨脹曲線，全部原始數(shù)據(jù)，及Tf點(diǎn)，并計(jì)算出線膨脹系數(shù)及Tg點(diǎn)；
6、加熱爐內(nèi)溫度波動(dòng):≤±1℃；
8、控溫精度：室溫到600℃，控溫精度為±1℃；600℃到1000℃，控溫精度為±2℃；
9、測(cè)量分辨力為0.1微米，測(cè)試準(zhǔn)確度：±a×0.1×10-6K-1；
10、軟件處理數(shù)據(jù)可自動(dòng)計(jì)算線膨脹系數(shù),并獲取膨脹率曲線, Tg、Tf點(diǎn)。
11、測(cè)試架材質(zhì)：石英。
12、發(fā)熱元件：高溫電阻絲。
配置：含立式推桿膨脹儀測(cè)試主機(jī)壹臺(tái),測(cè)試軟件一套,石英標(biāo)樣壹個(gè)，需方自備電腦

產(chǎn)品名稱：四探針方阻電阻率測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)： FT-331

四探針方阻電阻率測(cè)試儀型號(hào)：

一. 描述Description：
采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.
二.參照標(biāo)準(zhǔn)standard：
硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.
三.范圍Applicable scope：
于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報(bào)表
用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試等相關(guān)產(chǎn)品

四.型號(hào)及參數(shù)Models and technical parameters

規(guī)格型modelFT-331
1.方塊電阻范圍Sheet resistance 10-5～2×105Ω/□
2.電阻率范圍Resistivity 10-6～2×106Ω-cm
測(cè)試電流范圍
Test current 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度 Current accura±0.1%

5.電阻精度Resistance ≤0.3%
6.顯示讀數(shù)display液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity 7.測(cè)試方式test mode普通單電測(cè)量general single electrical measurement
8.工作電源power輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W
9.誤差errors≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果 Standard Sample results）
10.選購功能choose to buy選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻
1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform.
11.測(cè)試探頭Test probe探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.
Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.

產(chǎn)品名稱：全電腦跌落試試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品型號(hào)：DLJ-2000PC